On-chip multibit-test scheme for VLSI memories

被引：0

作者：

Hidaka, Hideto ^{[1
]}

Fujishima, Kazuyasu ^{[1
]}

Kumanoya, Masaki ^{[1
]}

Miyatake, Hideshi ^{[1
]}

Dosaka, Katsumi ^{[1
]}

Nishimura, Yasumasa ^{[1
]}

Yoshihara, Tsutomu ^{[1
]}

机构：

[1] Mitsubishi Electric Corp, Japan

来源：

Electronics and Communications in Japan, Part II: Electronics (English translation of Denshi Tsushin Gakkai Ronbunshi) | 1988年 / 71卷 / 09期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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