Quantification of scanning capacitance microscopy imaging of the pn junction through electrical simulation

被引：0

作者：

Lucent Technologies, Bell Laboratories, Murray Hill, NJ 07974, United States ^{[1
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机构：

来源：

Appl Phys Lett | / 2卷 / 272-274期

关键词：

D O I：

暂无

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