Study of the interface roughness using polarized neutron and X-ray reflectivity on MBE permalloy thin films

被引：0

作者：

Dept. of Eng. and System Science, Also Nucl. Reactor Div., Nucl. S., Hsinchu, Taiwan ^{[1
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不详 ^{[2
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不详 ^{[3
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机构：

来源：

J Phys Chem Solids | / 8卷 / 1491-1494期

关键词：

Number:; -; Acronym:; USDOE; Sponsor: U.S. Department of Energy; NSC87-2112-M007-042; NSC; Sponsor: National Science Council;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用