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Electrical characterization and physical analysis of epitaxial CoSi2 grown from the Si[Left angle bracket]100[Right Angle Bracket]/Ti/Co system
被引：0
作者：
Hatzikonstantinidou, Sofia
Wikman, Peter
Zhang, Shi-Li
Petersson, C. Sture
机构：
来源：
Journal of Applied Physics
|
1996年
/
80卷
/
02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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