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Contribution of surface resonances to scanning tunneling microscopy images: (110) surfaces of III-V semiconductors
被引：0
作者：
Forschungszentrum Juelich, Juelich, Germany
[1
]
机构：
来源：
Phys Rev Lett
|
/
14卷
/
2997-3000期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
25
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