Temperature effects of γ-irradiated metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor

被引：0

作者：

Wang, Jian-Ping

Xu, Na-Jun

Zhang, Ting-Qing

Tang, Hua-Lian

Liu, Jia-Lu

Liu, Chuan-Yang

Yao, Yu-Juan

Peng, Hong-Lun

He, Bao-Ping

Zhang, Zheng-Xuan

机构：

[1] Microelectronics Research Institute, Xidian University, Xi'an 710071, China

[2] Northwest Nucl. Technology Institute, Xi'an 710024, China

来源：

Wuli Xuebao/Acta Physica Sinica | 2000年 / 49卷 / 07期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用