Weaknesses of the conventional three-state model in station-oriented reliability evaluation

被引：0

作者：

Billinton, R. ^{[1
]}

Chen, Hua ^{[1
]}

机构：

[1] Univ of Saskatchewan, Saskatoon, Canada

来源：

Microelectronics Reliability | 1997年 / 37卷 / 12期

关键词：

D O I：

暂无

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页码：1799 / 1804

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