SCAN-TESTABLE 6000 GATE ARRAY.

被引：0

作者：

Berendts, P.A.B. ^{[1
]}

机构：

[1] Philips Elcoma, Nijmegen, Neth, Philips Elcoma, Nijmegen, Neth

来源：

IEEE transactions on industrial electronics and control instrumentation | 1984年 / IE-33卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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