Growth of zinc sulfide thin films on (100)Si with the successive ionic layer adsorption and reaction method studied by atomic force microscopy

被引：0

作者：

Univ of Helsinki, Helsinki, Finland ^{[1
]}

机构：

来源：

Appl Surf Sci | / 1-2卷 / 131-136期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

相关论文

empty

未找到相关数据