NANOSTRUCTURE DEFECTS IN Si3N4.

被引：0

作者：

Wen, Shulin ^{[1
]}

Feng, Jingwei ^{[1
]}

机构：

[1] Acad Sinica, Shanghai, China, Acad Sinica, Shanghai, China

来源：

| 1600年 / 04期

关键词：

HIGH-RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY - NANOSTRUCTURE DEFECTS;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

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