共 9 条
[1]
Lucero E.M., Challa N., Feilds J., IEEE Solid-State Circuits, SC-18, (1983)
[2]
Iwata Y., Momodomi M., Tanaka T., Oodaira H., Itoh Y., Nakayama R., Kirisawa R., Aritome S., Endoh T., Shirota R., Ohuchi K., Masuoka F., IEEE J. Solid-State Circuits, SC-25, (1990)
[3]
Ohnakado T., Mitsunaga K., Nunoshita M., Onoda H., Sakakibara K., Tsuji N., Ajika N., Hatanaka M., Miyoshi H., Int. Electron Device Meet. Tech. Dig., (1995)
[4]
Ohnakado T., Ajika N., Hayashi H., Takada H., Kobayashi K., Sugahara K., Satoh S., Miyoshi H., Symp. VLSI Technology Dig., (1988)
[5]
Lim F.R.L., Poe C.H., Yeh C.P., Wu P.H., Ni J., Hsu C., Int. Electron Device Meet. Tech. Dig., (1999)
[6]
Chen I.C., Kaya C., Paterson J., Int. Electron Device Meet. Tech. Dig., (1989)
[7]
Cerma F., Mielke N., Int. Proc. Reliability Physics Symp., (1988)
[8]
Aritome S., Shirota R., Hemink G., Endoh T., Masuoka F., Proc. IEEE, (1993)
[9]
San K.T., Kaya C., Ma T.P., IEEE Trans. Electron Devices, ED-42, (1995)