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Design of scan-based low testing power architecture
被引：0
作者：
Xu, Lei
Sun, Yi-He
Chen, Hong-Yi
机构：
来源：
Jisuanji Yanjiu yu Fazhan/Computer Research and Development
|
2001年
/
38卷
/
12期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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