Imaging energy analyzer for RHEED: Energy filtered diffraction patterns and in situ electron energy loss spectroscopy

被引：0

作者：

Staib, P. ^{[1
]}

Tappe, W. ^{[1
]}

Contour, J.P. ^{[2
]}

机构：

[1] STAIB Instrumente GmbH, 85416 Langenbach, Germany

[2] CNRS/Thomson-Csf, 91404 Orsay, France

来源：

Journal of Crystal Growth | 1999年 / 201卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：45 / 49

相关论文

empty

未找到相关数据