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In-situ measurements of shapes and thicknesses of optical parts by femtosecond two-colour interferometry
被引：0
作者：
Natl Research Lab of Metrology, Ibaraki, Japan
[1
]
机构：
来源：
Opt Commun
|
/
1-3卷
/
6-10期
关键词：
Number:;
-;
Acronym:;
AIST;
Sponsor: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology;
D O I：
暂无
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学科分类号：
摘要：
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