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ANGULAR DISTRIBUTION MEASUREMENTS OF SPUTTERED ATOMS WITH CHARACTERISTIC X-RAY EMISSION.
被引:0
作者
:
Roedelsperger, K.
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Roedelsperger, K.
Scharmann, A.
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Scharmann, A.
机构
:
来源
:
Nuclear Instruments and Methods
|
1975年
/ 132卷
关键词
:
Compendex;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
METALS AND ALLOYS
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页码:355 / 362
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