未找到相关数据
Characterisation of heteroepitaxial compound semiconductor layers and superlattices using transmission electron microscopy
被引：14
作者：
Cerva, H.
Oppolzer, H.
机构：
来源：
Progress in Crystal Growth and Characterization
|
1990年
/
20卷
/
03期
关键词：
D O I：
10.1016/0146-3535(90)90003-B
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
相关论文