Creep and stress rupture behavior of an advanced silicon nitride: Part II, Creep rate behavior

被引：0

作者：

Menon, Mamballykalathil N. ^{[1
]}

Fang, Ho T. ^{[1
]}

Wu, David C. ^{[1
]}

Jenkins, Michael G. ^{[1
]}

Ferber, Mattison K. ^{[1
]}

机构：

[1] Allied-Signal Aerospace Co, Phoenix, United States

来源：

Journal of the American Ceramic Society | 1994年 / 77卷 / 05期

关键词：

Silicon nitride;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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