首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
High-frequency and microwave scanning microscopy
被引:0
作者
:
Burakov, A.V.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Moscow Stt. Technol. Univ. Stankin, Moscow, Russia
Moscow Stt. Technol. Univ. Stankin, Moscow, Russia
Burakov, A.V.
[
1
]
Luk'yanov, A.E.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Physical Department, M. V. Lomonosov Moscow Stt. Univ., Moscow, Russia
Moscow Stt. Technol. Univ. Stankin, Moscow, Russia
Luk'yanov, A.E.
[
2
]
机构
:
[1]
Moscow Stt. Technol. Univ. Stankin, Moscow, Russia
[2]
Physical Department, M. V. Lomonosov Moscow Stt. Univ., Moscow, Russia
来源
:
Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
|
2001年
/ 16卷
/ 12期
关键词
:
Microwave scanning microscopy;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
(Edited Abstract)
引用
收藏
页码:1943 / 1959
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据