Variation of the stress dependent magnetic flux leakage signal with defect depth and flux density

被引：0

作者：

Krause, Thomas W. ^{[1
]}

Donaldson, R.M. ^{[1
]}

Barnes, R. ^{[1
]}

Atherton, David L. ^{[1
]}

机构：

[1] Queen's Univ, Kingston, Canada

来源：

NDT and E International | 1996年 / 29卷 / 02期

关键词：

D O I：

暂无

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