General purpose design-for-test methodology at the analog-digital boundary of mixed-signal VLSI

被引：0

作者：

Verfaillie, Johan ^{[1
]}

Haspeslagh, Didier ^{[1
]}

机构：

[1] Alcatel Bell Telephone, Antwerpen, Belgium

来源：

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) | 1996年 / 9卷 / 1-2期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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