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Measurement of temperature behavior of azimuthal anchoring energy at liquid crystal/SiO interface using new method
被引：0
作者：
机构：
[1] Iimura, Yasufumi
[2] Kobayashi, Norihiko
[3] Kobayashi, Shunsuke
来源：
Iimura, Yasufumi
|
1935年
/
JJAP, Minato-ku卷
/
34期
关键词：
Interfaces;
(materials);
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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