Two-unit redundant system with inspection and adjustable rates

被引：0

作者：

Goel, L.R. ^{[1
]}

Agnihotri, R.K. ^{[1
]}

Gupta, Rakesh ^{[1
]}

机构：

[1] Meerut Univ, Meerut, India

来源：

Microelectronics Reliability | 1991年 / 31卷 / 01期

关键词：

Systems Engineering;

D O I：

暂无

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