Design-for-test methodologies and tools for ASIC design

被引：0

作者：

Strickland, Terry ^{[1
]}

机构：

[1] Compass Design Automation, San Jose, United States

来源：

Electronic Products (Garden City, New York) | 1995年 / 38卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用