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Novel blister test to investigate thin film delamination at elevated temperature
被引：0
作者：
Wan, Kai-Tak
机构：
来源：
|
1600年
/
Elsevier Science Ltd, Exeter, United Kingdom卷
/
20期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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