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Structural and electronic properties of evaporated thin films of cadmium telluride
被引：0
作者：
机构：
[1] Ismail, B.B.
[2] Gould, R.D.
来源：
Ismail, B.B.
|
1600年
/
115期
关键词：
Band Gap - Current Density-Voltage Characteristics - Thin Films - X-ray Diffraction;
D O I：
暂无
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学科分类号：
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