Evaluation of residual stress on beryllium surface by glancing X-ray

被引：0

作者：

Xu, Kewei ^{[1
]}

Chen, Jin ^{[1
]}

He, Jiawen ^{[1
]}

Wang, Xinqing ^{[1
]}

机构：

[1] Xi'an Jiaotong Univ, Xi'an, China

来源：

Xiyou jinshu cailiao yu gongcheng | 1993年 / 22卷 / 02期

关键词：

Beryllium surface stress - X ray diffraction;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

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