DC and noise characteristics of 4H-SiC metal-semiconductor-metal ultraviolet photodetectors

被引：0

作者：

Chiou, Yu-Zung ^{[1
]}

机构：

[1] Dept. of Electronics Engineering, S. Taiwan University of Technology, Tainan, 710, Taiwan

来源：

| 1600年 / Japan Society of Applied Physics卷 / 43期

关键词：

D O I：

暂无

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摘要：

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