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Measurement of the force applied by a scanning tunneling microscope stylus on the measured surface
被引：0
作者：
Zhang, Haicheng
Zhang, Jian
Zhang, Yufen
机构：
来源：
Binggong Xuebao/Acta Armamentarii
|
1999年
/
20卷
/
02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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