Integrating analog-to-digital converter radiation hardness test technique and results

被引：0

作者：

Kalashnikov, O.A. ^{[1
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Demidov, A.A. ^{[1
]}

Figurov, V.S. ^{[1
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Nikiforov, A.Y. ^{[1
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Polevich, S.A. ^{[1
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Telets, V.A. ^{[1
]}

Maljudin, S.A. ^{[1
]}

Artamonov, A.S. ^{[1
]}

机构：

[1] Specialized Electronic Systems, Moscow, Russia

来源：

IEEE Transactions on Nuclear Science | 1998年 / 45卷 / 6 pt 1期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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