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WEAK-BEAM TECHNIQUE FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION OF ATOMIC STEPS ON THIN SINGLE-CRYSTAL SURFACES.
被引:0
作者
:
Kambe, K.
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Kambe, K.
Lehmpfuhl, G.
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Lehmpfuhl, G.
机构
:
来源
:
Optik (Jena)
|
1975年
/ 42卷
/ 02期
关键词
:
Compendex;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
CRYSTALS
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页码:187 / 194
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