Wafer-scale diagnosis tolerating comparator faults

被引：0

作者：

Istituto di Elaborazione, Informazione Del CNR, VIA Santa Maria, 46, 1-56126 Pisa, Italy ^{[1
]}

机构：

来源：

IEE Proc Comput Digital Tech | / 4卷 / 211-215期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用