Technique to measure the dynamic response of a-Si:H thin film transistor circuits

被引：0

作者：

Bashir, Rashid ^{[1
]}

机构：

[1] Purdue Univ, United States

来源：

Solid-State Electronics | 1990年 / 33卷 / 07期

关键词：

Charge Trapping - Dynamic Response Thin Film Transistor Circuits - Measurement;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：973 / 974

相关论文

empty

未找到相关数据