X-RAY SPECTROMETER FOR INELASTIC SCATTERING EXPERIMENTS. II. SPECTRAL FLUX AND RESOLUTION.

被引：0

作者：

Suortti, P. ^{[1
]}

Pattison, P. ^{[1
]}

Weyrich, W. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Konstanz, Konstanz, West Ger, Univ Konstanz, Konstanz, West Ger

来源：

Journal of Applied Crystallography | 1986年 / 19卷 / pt 5期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

页码：343 / 352