TEST GENERATION USING EQUIVALENT NORMAL FORMS.

被引:0
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作者
Hayes, John P.
机构
来源
Journal of Design Automation & Fault-Tolerant Computing | 1600年 / 3卷 / 3-4期
关键词
Compendex;
D O I
暂无
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学科分类号
摘要
LOGIC CIRCUITS
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