Study on hetero-electromigration of Au-Ag thin film by scanning Auger microscopy

被引：0

作者：

Shi, Fangxiao ^{[1
]}

Yao, Wenqing ^{[1
]}

Cao, Lili ^{[1
]}

机构：

[1] Tsinghua Univ, Beijing, China

来源：

Zhenkong Kexue yu Jishu Xuebao/Vacuum Science and Technology | 1997年 / 17卷 / 05期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

页码：304 / 310