TEST PROBES FOR SURFACE MOUNT DEVICES.

被引：0

作者：

Keller, Muriel ^{[1
]}

Cook, Steve ^{[1
]}

机构：

[1] Hewlett-Packard Manufacturing Test, Div, Loveland, CO, USA, Hewlett-Packard Manufacturing Test Div, Loveland, CO, USA

来源：

关键词：

STANDARD DEVIATIONS (SD) - SURFACE MOUNT DEVICES - TEST PROBES - TESTING PADS - TOLERANCES;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

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