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Atomic force microscopy for the determination of refractive index profiles of optical fibers and waveguides: a quantitative study
被引：0
作者：
Huntington, S.T.
Mulvaney, P.
Roberts, A.
Nugent, K.A.
Bazylenko, M.
机构：
来源：
Journal of Engineering and Applied Science
|
1998年
/
82卷
/
06期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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