Effects of x-ray irradiation on polycrystalline silicon, thin-film transistors

被引：0

作者：

Li, Yixin ^{[1
]}

Antonuk, Larry E. ^{[1
]}

El-Mohri, Youcef ^{[1
]}

Zhao, Qihua ^{[1
]}

Du, Hong ^{[1
]}

Sawant, Amit ^{[1
]}

Wang, Yi ^{[1
]}

机构：

[1] Department of Radiation Oncology, University of Michigan, 519 West William Street, Ann Arbor, MI 48103-4943

来源：

Journal of Applied Physics | 2006年 / 99卷 / 06期

关键词：

X ray analysis;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Journal article (JA)

引用