Nanoscale ferroelectric information storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy

被引：0

作者：

Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-Ku, Sendai 980-8577, Japan ^{[1
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机构：

来源：

J. Nanosci. Nanotechnol. | 2007年 / 1卷 / 105-116期

关键词：

D O I：

暂无

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摘要：

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