Effect of the thickness of YBCO film on microstructure and critical current density

被引：0

作者：

Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices of China, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China ^{[1
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机构：

来源：

J Fun Mater Dev | 2007年 / 4卷 / 301-305期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

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引用