CMOS inverter performance degradation and its correlation with BTI, HCI and OFF state MOSFETs aging

被引：0

作者：

Crespo-Yepes, A. ^{[1
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Nasarre, C. ^{[1
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Garsot, N. ^{[1
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Martin-Martinez, J. ^{[1
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Rodriguez, R. ^{[1
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Barajas, E. ^{[2
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Aragones, X. ^{[2
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Mateo, D. ^{[2
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Nafria, M. ^{[1
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机构：

[1] Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB), 08193, Bellaterra, Barcelona, Spain

[2] Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya (UPC), Barcelona,08034, Spain

来源：

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Timing circuits

引用