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Temperature dependence of the transverse piezoelectric coefficient of thin films and aging effects
被引：0
|作者：
机构：
[1] Rossel, C.
[2] Sousa, M.
[3] Abel, S.
[4] Caimi, D.
[5] Suhm, A.
[6] Abergel, J.
[7] Le Rhun, G.
[8] Defay, E.
来源：
|
1600年
/
American Institute of Physics Inc.卷
/
115期
关键词：
35;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Journal article (JA)
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