Magnetic flux leakage testing: Strong or weak magnetization

被引：0
作者：
机构：
[1] Sukhorukov, Vasily
来源：
Sukhorukov, V. (vsukhorukov@intron-plus.com) | 1600年 / American Society for Nondestructive Testing卷 / 71期
关键词：
D O I：
暂无
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