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Analysis and research to security testing of smart card
被引：0
作者：
Wuhan University of Science and Engineering, Electron and Information Engineering Institute, Wuhan, China
[1
]
机构：
来源：
Proc. - Int. Conf. Electron. Commer. Bus. Intell., ECBI
|
1600年
/
99-101期
关键词：
Compilation and indexing terms;
Copyright 2025 Elsevier Inc;
D O I：
2009 International Conference on Electronic Commerce and Business Intelligence, ECBI 2009
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Computation theory
引用
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