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Optical charge-pumping: A universal trap characterization technique for nanoscale floating body devices
被引：0
作者：
Dept. Electrical Engineering, KAIST, Daejeon, Korea, Republic of
[1
]
机构：
来源：
Dig Tech Pap Symp VLSI Technol
|
2011年
/
190-191期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Reliability analysis
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