Influence of IrMn exchange bias layer on the magnetic properties of half-ring NiFe micron structures

被引：0

作者：

Chang, L.J. ^{[2
]}

Chen, A.L. ^{[2
]}

Cheng, K.W. ^{[1
]}

Yu, C. ^{[1
]}

Lee, S.F. ^{[1
,2
]}

Liou, Y. ^{[1
]}

Yao, Y.D. ^{[1
]}

机构：

[1] Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei, 115, Taiwan

[2] Institute of Optoelectronic Sciences, National Taiwan Ocean University, Keelung, Taipei, 202, Taiwan

来源：

Journal of Applied Physics | 2007年 / 101卷 / 09期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Conference article (CA)

引用