On-the-fly inlining of dynamic dependency monitors for secure information flow

被引：0

作者：

Si6 Labs., CITEDEF - Inst. de Investigac. Cient. Y Técnicas para la Defensa, Argentina ^{[1
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不详 ^{[2
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机构：

来源：

Lect. Notes Comput. Sci. | / 55-69期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Artificial intelligence

引用