Simulation of hub flaw X-ray images

被引：0

作者：

Huang, Qian ^{[1
]}

Ou, Yanhua ^{[1
]}

机构：

[1] School of Electronic and Information Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510641, China

来源：

Shuju Caiji Yu Chuli/Journal of Data Acquisition and Processing | 2007年 / 22卷 / 04期

关键词：

10;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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