Thermal analysis of organic light emitting diode based on IR thermal imaging and transient electrical test

被引:0
作者
Yang, Lian-Qiao [1 ]
Wang, Lang [1 ]
Chen, Wei [1 ]
Wei, Bin [1 ]
Zhang, Jian-Hua [1 ]
机构
[1] Key Laboratory of Advanced Display and System Applications of the EMC, Shanghai University, Shanghai 200072, China
来源
Guangdianzi Jiguang/Journal of Optoelectronics Laser | 2013年 / 24卷 / 07期
关键词
D O I
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页码:1258 / 1262
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