A post-indent imaging system with nanometric resolution for micro-/nano-indentation testing

被引：0

作者：

Li, Zhi ^{[1
]}

Herrmann, Konrad ^{[1
]}

机构：

[1] Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, Germany

来源：

Nami Jishu yu Jingmi Gongcheng/Nanotechnology and Precision Engineering | 2008年 / 6卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：237 / 241